Mikroskop Elektron Pengimbasan Filamen Tungsten, Eco. SEM, 15x ~ 250000x

A63.7062

Mikroskop Elektron Pengimbasan Filamen Tungsten 15x ~ 25000x, Std. SEM

Pengesan LaB6, X-Ray yang boleh ditingkatkan, EBSD, CL, WDS, Mesin Salutan Dan Lain-lain.

Pelbagai Pengubahsuaian EBL, STM, AFTM, Heatign Stage, Cryo Stage, Tensile Stage, SEM + Laser And Dll.

Penentukuran Auto, Pengesanan Kesalahan Auto, Kos Rendah Untuk Menyelenggara & Membaiki

Antaramuka Operasi Mudah & Mesra, Semua Dikendalikan Dengan Tetikus Dalam Sistem Windows

Kuantiti pesanan minimum:1

Perincian Produk

Penerangan Produk

A63.7062 Tungsten Filamen Mikroskop Elektron Mengimbas, Eco. SEM
Resolusi	4.5nm@30KV (SE); 6nm @ 30KV (BSE)
Pembesaran	Pembesaran Negatif: 15x ~ 250000x; Pembesaran Skrin: 30x ~ 500000x
Pistol Elektron	Katrij Filamen Tungsten Dipanaskan Katung-Pra Berpusat Tungsten
Mempercepat Voltan	0 ~ 30KV
Sistem Lensa	Lensa Elektromagnetik Tiga Tingkat (Lensa Meruncing)
Bukaan Objektif	Molibdenum Aperture Laras Luar Sistem Vakum
Peringkat Spesimen	Tahap Lima Paksi
Julat Perjalanan	X (Auto)	0 ~ 50mm
Y (Auto)	0 ~ 50mm
Z (Manual)	0 ~ 25mm
R (Manual)	360o
T (Manual)	-5o ~ 90o
Diameter Spesimen Maksimum	150mm
Pengesan	SE: Pengesan Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Pengesan)
Pengubahsuaian	Peningkatan Peringkat; EBL; STM; AFM; Tahap Pemanasan; Tahap Cryo; Tahap tarik; Manipulator mikro-nano; Mesin Lapisan SEM +; SEM + Laser
Aksesori	CCD, LaB6, X-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, Mesin Salutan
Sistem Vakum	Pam Molekul Turbo; Pam Putaran
Arus Rasuk Elektron	10pA ~ 0.1