A63.7081 Schottky Field Emission Gun Scanning Electron Microscope Pro FEG SEM, 15x ~ 800000x

Penerangan Ringkas:

15x ~ 800000x Schottky Field Emission Gun Scanning Elektron Mikroskop
Pecutan E-Beam Dengan Bekalan Arus Rasuk Stabil Imej Hebat Di Bawah Voltan Rendah
Sampel Bukan Konduksi Dapat Diperhatikan Secara Langsung Tidak Perlu Dihalau Dalam Voltan Rendah
Antaramuka Operasi Mudah & Mesra, Semua Dikendalikan Dengan Tetikus Dalam Sistem Windows
Bilik Sampel Besar Dengan Pentas Bermotor Eucentric Lima Paksi Ukuran Besar, Spesimen Maksimum Dia.320mm
Kuantiti pesanan minimum:1

Perincian Produk

Teg Produk

A63.7081_01.jpg

Penerangan Produk

A63.7081 Schottky Field Emission Gun Mikroskop Elektron Mengimbas Pro FEG SEM
Resolusi		1nm @ 30KV (SE); 3nm @ 1KV (SE); 2.5nm@30KV (BSE)
Pembesaran		15x ~ 800000x
Pistol Elektron		Pistol Elektron Pelepasan Schottky
Arus Rasuk Elektron		10pA ~ 0.3μA
Mempercepat Voatage		0 ~ 30KV
Sistem Vakum		2 Pam Ion, Pam Molekul Turbo, Pam Mekanikal
Pengesan		SE: Pengesan Elektron Sekunder Vakum Tinggi (Dengan Perlindungan Pengesan)
		BSE: Pengesan Penyebaran Kembali Semikonduktor Empat Segmen
		CCD
Peringkat Spesimen		Lima Bermotor Eucentric Motorized Stage
Julat Perjalanan	X	0 ~ 150mm
	Y	0 ~ 150mm
	Z	0 ~ 60mm
	R	360º
	T	-5º ~ 75º
Diameter Spesimen Maksimum		320mm
Pengubahsuaian		EBL; STM; AFM; Tahap Pemanasan; Cryo Stage; Tensile Stage; Micro-nano Manipulator; SEM + Coating Machine; SEM + Laser Dll
Aksesori		X-Ray Detector (EDS), EBSD, CL, WDS, Coating Machine Dll.

A63.7081_03.jpg

A63.7081_04.jpg

A63.7081_05.jpg

A63.7081_06.jpg

A63.7081_07.jpg

A63.7081_08.jpg

A63.7081_09.jpg

A63.7081_10.jpg

A63.7081_11.jpg

Kelebihan dan Kes

Mikroskopi elektron imbasan (sem) sesuai untuk pemerhatian topografi permukaan logam, seramik, semikonduktor, mineral, biologi, polimer, komposit dan bahan berskala nano satu dimensi, dua dimensi dan tiga dimensi (gambar elektron sekunder, imej elektron terbalik). Ia boleh digunakan untuk menganalisis titik, garis dan komponen permukaan mikroregion. Ia digunakan secara meluas dalam petroleum, geologi, medan mineral, elektronik, bidang semikonduktor, perubatan, bidang biologi, industri kimia, bidang bahan polimer, siasatan jenayah keselamatan awam, pertanian, perhutanan dan bidang lain.